| 品牌 | 昊量光電 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
紫外-可見光單光子計數(shù)面陣相機(jī)：
當(dāng)國際品牌還在為突破2計數(shù)/s·cm2的暗噪聲極限掙扎時，這款國產(chǎn)單光子計數(shù)面陣探測器已實現(xiàn)＜1的超低暗噪！它用Φ70mm超大靶面（比主流產(chǎn)品大40%）和225萬高像素（1500×1500@≤45μm）重新定義光子成像邊界，極紫外量子效率飆升至25%以上（競品僅15%），在深空探測中能捕捉冥王星軌道級別的微弱紫外輻射，電暈檢測中可識別比頭發(fā)絲放電弱十倍的5p電流，更以350K/s計數(shù)率將熒光壽命成像成本降低90%——這不僅是參數(shù)碾壓，更是為航天預(yù)警、痕量檢測等領(lǐng)域打造的國產(chǎn)超靈敏“光子之眼"，讓曾經(jīng)被歐美壟斷的探測器從此有了中國答案！
紫外-可見光單光子計數(shù)面陣相機(jī)核心優(yōu)勢
1. 極限靈敏度突破
暗噪聲：≤1 計數(shù)/s·cm2（Photonis Planacon XP8500 為2.5計數(shù)/s·cm2，Hamamatsu VUV4約1.8計數(shù)/s·cm2）
量子效率：極紫外波段（10120nm）QE超25%（競品平均＜15%），陰極材料可定制優(yōu)化全波段響應(yīng)
2. 大靶面高分辨率碾壓
有效面積：≥Φ70mm（主流競品≤Φ50mm，如Andor iStar 340T為Φ40mm）
像元密度：1500×1500像元（競品普遍≤1024×1024），像元尺寸≤45μm（Photonis MCPPMT典型值53μm）
3. 動態(tài)范圍與速度
計數(shù)率：350K/s（Hamamatsu Flat Panel PMT上限約200K/s）
抗飽和能力：強(qiáng)光瞬態(tài)保護(hù)技術(shù)解決emccd/Iccd的過曝痛點(diǎn)
4. 國產(chǎn)化專屬優(yōu)化
航天級可靠性：抗輻照設(shè)計（競品未公開此項）、真空密封壽命＞10萬小時
成本優(yōu)勢：售價僅為進(jìn)口同類設(shè)備的6070%，支持定制化光譜響應(yīng)
國際競品技術(shù)短板對比
參數(shù) | 國產(chǎn)探測器 | 國際主流競品 |
暗計數(shù)率 | ≤1 計數(shù)/s·cm2 | 1.5-3 計數(shù)/s·cm2 |
有效探測直徑 | ≥Φ70mm | Φ40-50mm（MCP-PMT類） |
像元數(shù) | 225萬（1500×1500） | ≤105萬（1024×1024典型） |
極紫外QE（20nm） | 25%-30% | 12%-18%（需特殊涂層） |
技術(shù)指標(biāo) | 數(shù)值 |
工作波段 | 10nm~700nm |
有效探測面積 | ≥中70mm |
等效像元尺寸 | ≤45um |
像元數(shù) | ≥1500x1500 |
暗計數(shù)率 | ≤1計數(shù)/sNaN2 |
計數(shù)率 | 350K/s |
應(yīng)用場景性價值
深空探測：70mm大靶面提升視場角30%+，NASA太陽軌道探測器同類設(shè)備靶面僅Φ25mm
電暈檢測：暗噪聲降低60%，可識別≤5pA的微弱放電（競品閾值約10pA）
熒光壽命成像：350K/s計數(shù)率支持納秒級動力學(xué)捕捉，替代百萬級進(jìn)口 streak camera
在大靶面、高分辨率、極紫外響應(yīng)三大維度建立技術(shù)壁壘，為航天國防及科研提供自主可控的探測工具。
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